ABSTRAK Nama : I Putu Edy Suardiyana Putra Program Studi : Ilmu Komputer Judul : Centroid-Based Adaptive Random Testing pada Object Oriented Program Random Testing (RT) merupakan teknik pengujian perangkat lunak yang cukup umum digunakan oleh para pengembang perangkat lunak. RT memiliki beberapa kelebihan yaitu sederhana secara konseptual, mudah untuk diimplementasikan, dan telah dibuktikan efektif dalam mendeteksi error. Untuk meningkatkan performa RT, maka dibentuklah suatu teknik baru yang diberi nama Adaptive Random Testing (ART) yang sudah terbukti mampu mengungguli RT dalam hal kecepatan dalam mendeteksi error yang pertama. Namun dalam perkembangannya, ART memiliki kelemahan yang cukup vital yaitu membutuhkan waktu lebih lama dalam proses generating test case jika dibandingkan dengan RT. Pada penelitian ini dilakukan modifikasi ART dengan memanfaatkan konsep centroid. Pengembangan ART ini diberi nama centroid base adaptive random testing (CB-ART). Untuk melihat besar peningkatan yang dihasilkan oleh CB-ART, maka dilakukan perbandingan dengan dua metode pendahulunya yakni ARTGen dan RANDOOP dengan menggunakan 2 skenario dimana kedua skenario memiliki tahapan-tahapan yang sama namun dengan subject class dan jenis error yang berbeda. Skenario pertama menggunakan error berdasarkan failure pattern dan skenario kedua menggunakan error yang berasal dari java mutation operator. Untuk proses eksperimen dari kedua skenario adalah sama. Hasil dari penelitian ini menunjukkan bahwa CB-ART mampu mengungguli kedua metode pendahulunya dari sisi kecepatan generating test case. CB-ART mampu me-generate test case rata-rata 792.38% lebih banyak jika dibandingkan dengan ARTGen dan 108% lebih banyak dari RANDOOP pada skenario pertama. Pada skenario kedua, CB-ART juga mampu mampu me-generate test case rata-rata 275.73% lebih banyak jika dibandingkan dengan ARTGen dan 153.25% lebih banyak dari RANDOOP. Untuk parameter lainnya, CB-ART menghasilkan nilai yang sebanding atau lebih baik dari ARTGen dan RANDOOP hanya pada beberapa subject. Kata Kunci: Random Testing, Adaptive Random Testing, centroid, failure pattern